TESTED ELECTRONICS TROUBLESHOOTING METHODS | UPT PERPUSTAKAAN INSTITUT TEKNOLOGI BACHARUDDIN JUSUF HABIBIE

Pencarian berdasarkan :

SEMUA Pengarang Subjek ISBN/ISSN Pencarian Spesifik

Pencarian terakhir:

{{tmpObj[k].text}}

Image of TESTED ELECTRONICS TROUBLESHOOTING METHODS

Penanda Bagikan

Text

TESTED ELECTRONICS TROUBLESHOOTING METHODS

Walter H. Buchsbaum, Sc.D. - Nama Orang;

Tidak Tersedia Deskripsi

Ketersediaan

#

My Library 005.1 WAL t

TES24.437

Tersedia

Informasi Detail

Judul Seri: -
No. Panggil: 005.1 WAL t
Penerbit: United States of America : PRENTICE-HALL,INC., 1983
Deskripsi Fisik: 7 + 272 hlm.; 17 x 23 cm
Bahasa: Indonesia
ISBN/ISSN: 0139069666
Klasifikasi: 005.1
Tipe Isi: -
Tipe Media: -
Tipe Pembawa: -
Edisi: 2
Subjek: tested electronics troubleshooting methods
Info Detail Spesifik: -
Pernyataan Tanggungjawab: Walter H. Buchsbaum, Sc.D.

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas

Tidak Ada Data

Komentar

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar